Počet záznamov: 1
Atomic Force Microscopy
Názov Atomic Force Microscopy Podnázov understanding Basic Modes and Advanced Applications Aut.údaje Greg Haugstad Autor Haugstad Greg Vyd.údaje Hoboken : John Wiley & Sons , 2012. - xxii, 464 s. : obr., tab., 4 príl., 24 cm ISBN 978-0-470-63882-8 Jazyk dok. angličtina Krajina Spojené štáty Systematika 57.086.2/.3 620.172.24 539.1 Heslá mikroskopia - microscopy * mikroskopia atomárnych síl - atomic force microscopy AFM * štruktúra povrchu - surface texture * morfológia (biológia) - morphology * skúšanie materiálov - testing of materials * molekulárna fyzika - molecular physics Báza dát xkni - KNIHY Druh dok. AMG - monografie Počet ex. 2, z toho voľných 0, prezenčne 1 
kniha
Signatúra Lokácia Dislokácia Umiestnenie v študovni Info III 98757 SLDK SLDK-Odd.periodík a špeciálnej literatúry Knihy z projektu ÚCJ + SLDK III. p. 22 len prezenčne III 99557 DF DF-Katedra náuky o dreve nedost.
Počet záznamov: 1