Počet záznamov: 1
Atomic Force Microscopy
SYS 0062832 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20140109112510.3 010 $a 978-0-470-63882-8 $b viaz. $d 118,72 Eur 100 $a 20130116d2004 m y0sloc0103 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Atomic Force Microscopy $e understanding Basic Modes and Advanced Applications $f Greg Haugstad 210 $a Hoboken $c John Wiley & Sons $d 2012 215 $a xxii, 464 s. $c obr., tab., 4 príl. $d 24 cm 610 1-
$9 sldk_un_auth*h008771 $a mikroskopia $X microscopy 610 1-
$9 sldk_un_auth*0025111 $a mikroskopia atomárnych síl $X atomic force microscopy $X AFM 610 1-
$9 sldk_un_auth*0023663 $a štruktúra povrchu $X surface texture 610 1-
$a morfológia (biológia) $9 sldk_un_auth*h015001 $X morphology 610 1-
$9 sldk_un_auth*h001835 $a skúšanie materiálov $X testing of materials 610 1-
$9 sldk_un_auth*h002288 $a molekulárna fyzika $X molecular physics 675 $a 57.086.2/.3 $v 2.stred $z slo 675 $a 620.172.24 $v 1. stred. $z slo 675 $a 539.1 $v 1. stred. $z slo 700 -1
$3 sldk_un_auth*0031490 $a Haugstad $b Greg $4 070 801 -0
$a SK $b ZV001 $c 20130116 $g AACR2
Počet záznamov: 1