Počet záznamov: 1
Atomic Force Microscopy
- Atomic Force Microscopy : understanding Basic Modes and Advanced Applications
Haugstad Greg
Hoboken : John Wiley & Sons , 2012. - xxii, 464 s. : obr., tab., 4 príl., 24 cm
xkni - KNIHY
2, z toho voľných 0, prezenčne 1kniha
Počet záznamov: 1