Počet záznamov: 1  

Atomic Force Microscopy

  1. HAUGSTAD, Greg. Atomic Force Microscopy : understanding Basic Modes and Advanced Applications. Hoboken : John Wiley & Sons, 2012. xxii, 464 s. ISBN 978-0-470-63882-8.

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.