Atomic force microscopy in process engineering ; eds. Richard W. Bowen, Nidal Hilal. -- Amsterdam : Elsevier, 2009. -- xvi, 283 s. : obr., tab. ; 24 cm. -- ISBN 978-1-8561-7517-3 (viaz.) : 154,85 €. -- ISBN 978-1-85617-517-3

1. monografie

I. Bowen, Richard W.
II. Hilal, Nidal

(048.8)+57.086.2/.3+66.02/.09+62
ZV001