Výsledky vyhľadávania
- Atomic force microscopy in nanobiology
Takeyasu Kunio (Vedecký redaktor)
Singapore : Pan Stanford Publishing , 2014. - xix, 437 s. : obr., tab., 24 cm
xkni - KNIHY
1, z toho voľných 0
kniha
- Atomic Force Microscopy in Liquid : biological Applications
Baró Arturo M. (Vedecký redaktor)
Reifenberger Ronald G. (Vedecký redaktor)
Weinheim : WILEY-VCH Verlag , 2012. - xix, 362 s. : obr., tab., graf., 25 cm
xkni - KNIHY
2, z toho voľných 0, prezenčne 1kniha
- Atomic Force Microscopy : understanding Basic Modes and Advanced Applications
Haugstad Greg
Hoboken : John Wiley & Sons , 2012. - xxii, 464 s. : obr., tab., 4 príl., 24 cm
xkni - KNIHY
2, z toho voľných 0, prezenčne 1kniha
- Atomic Force Microscopy in Biomedical Research : methods and protocols
Braga Pier Carlo (Vedecký redaktor)
Ricci Davide (Vedecký redaktor)
New York : Springer Science+Business Media , 2011. - xiv, 508 s. : obr., tab., graf., 26 cm
xkni - KNIHY
1, z toho voľných 0kniha
- Life at the Nanoscale : Atomic Force Microscopy of Live Cells
Dufrêne Yves (Vedecký redaktor)
Singapore : Pan Stanford Publishing , 2011. - ix, 444 s. : obr., tab., graf., 26 cm
xkni - KNIHY
1, z toho voľných 0, prezenčne 1kniha
- Atomic force microscopy
Eaton Peter
West Paul
New York : Oxford University Press , 2010. - viii, 248 s. : obr., tab., 3 príl., 25 cm
xkni - KNIHY
11, z toho voľných 0kniha
- Amplitude modulation atomic force microscopy
García Ricardo
Weinheim : WILEY-VCH Verlag , 2010. - xiv, 179 s. : obr., tab., 25 cm
xkni - KNIHY
1, z toho voľných 0kniha
- Atomic force microscopy for biologists
Morris Victor J.
Kirby Andrew R.
Gunning A. Patrick
London : Imperial College Press , 2010. - xiii, 406 s. : obr., 24 cm
xkni - KNIHY
5, z toho voľných 0kniha
- Atomic force microscopy in process engineering
Bowen Richard W. (Vedecký redaktor)
Hilal Nidal (Vedecký redaktor)
Amsterdam : Elsevier , 2009. - xvi, 283 s. : obr., tab., 24 cm
xkni - KNIHY
1, z toho voľných 0kniha
- the World of Nano-Biomechanics : mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Ikai Atsushi
Amsterdam : Elsevier , 2008. - xvi, 283 s. : obr., tab., graf., 4 príl., 24 cm
xkni - KNIHY
4, z toho voľných 0, prezenčne 1kniha